CIS技術の先駆者として、WHECはより良いユーザーエクスペリエンスを提供することが重要であると考えています。CISはラインで画像を取得するラインスキャンカメラモジュールです。（一般的なカメラとの違いはこちらのページでご紹介しています。）システムへの導入の前には正確な製品評価が不可欠です。これまでのコラムではマシンビジョン業界でどのようにCISが利用されているかをご紹介してきましたが、本コラムではWHECが作成しているCSIの評価ユニットについてご紹介します。

長尺CIS用評価ユニットは、WHECの強みである検査用途や検査物に合わせた「カスタマイズ」製品をより効果的に評価するために作成されました。～800mmの CISと光源を評価でき、検査物に応じて光源の角度や位置、個数を調整することが可能です。軽量かつシンプルな構造で、一人でも組み立てられるよう工夫がなされています。800mm以上のCISと光源も評価できるよう、今後更なる改良も検討しています。

–長尺CIS用評価ユニットのデモ動画を見る

WHECの新製品、2000dpi LIS用評価ユニットは、飛行機の機内持ち込みサイズに収まるコンパクトさが特徴です。簡単に組み立て、解体ができるように設計されています。こちらの評価ユニットもLISや光源の角度を調整でき、焦点距離を合わせるために読取検査物との距離の調整も可能です。これらの調整作業はネジで行えるため、条件の異なる検査物もストレスなく評価することができます。

-2000dpi LIS評価ユニットのデモ動画を見る

ご紹介した以外にも、様々な用途に合わせた評価ユニットを作成しております。一例は下記動画でご覧いただけます。

-Tube Internal Surface Inspection評価ユニットのデモ動画を見る
-IC wafer inspection評価ユニットのデモ動画を見る

サンプルをお送りいただくことで、実際に検査物の画像取得が可能です。また、お客様に最適なソリューションをご提供できるよう、ご要望に合わせた評価ユニットの新規作成にも対応しております。貸出可能なものもございますので、ぜひご相談ください。