ＡＯＩ検査の用途でエリアカメラやラインカメラによる良品判定の検査には、ユニットの大型化、読み取り画像の歪みや周辺ボケなどの様々な欠点が…。そんなカメラの欠点を克服したCISシリーズでは、108mm～310mm, 新たに1960mmの長尺CISも登場しています。

CIS技術と無線技術を活用し、土木・建築などの新分野にもチャレンジしました。

WHECのCISはフィルム検査や印刷検査、そのほかのマシンビジョン分野で使用されています。新たな技術のひとつ、IC Waferの検査用モジュールをご紹介します。

WHECの開発・生産体制をご紹介します。