産業用カメラとして利用できるCIS ～乱反射を低減させる新技術の開発～
私たちはより良い製品をお届けするため、日々技術の向上に取り組んでいます。
中でも、検査対象物の照明は非常に重要な要素です。WHECはアルミなどの金属やシリコンの検査時に乱反射光がほとんど発生しない技術を開発しました。
光沢素材の表面検査などに威力を発揮します。
特徴
・検査対象物のしわなどによる乱反射を最小限に抑え、表面の微細な傷や文字を
読み取ることができます
・照射光の減衰を抑え、明るい画像を取得できます
・光の均一性が高いため、高解像度の鮮明な画像を取得できます
使用用途
・金属フィルム検査
・プラスチックフィルム検査
・シリコンフィルム検査
・カード類検査
・金属素材のエッジ検査 等
読取例
(1) 金属フィルム検査
カメラで撮影
CIS新技術で取得
(余分な乱反射が無くなり、鮮明に見える)
(2) 金属シート表面検査
カメラで撮影
CIS新技術で撮影
（均一な画像が得られる）
表面検査の反射光でお困りの場合はぜひお問い合わせください！