国際画像機器展2025 展示品紹介

12月3～5日に開催される国際画像機器展2025に出展します。

日本最大級のマシンビジョンが集う展示会です。WHECはCIS（コンタクトイメージセンサー）技術のパイオニアとして、各種検査用のCISラインカメラを展示します。ブースD19にぜひお越しください！

製造業における品質保証の重要性が高まる中、「より高解像度・より高速・より高安定の検査」が求められるようになっています。本展示会ではWHECの新しいCISラインカメラ技術をデモとともに展示します。

1.  高解像度CISラインカメラを用いたウェハー表面検査デモ

WSTS（世界半導体市場統計）の予測*¹によると、2025年の世界半導体市場は前年比11.2％増となり、2026年も市場規模の拡大が見込まれています。市場の拡大に伴い、ウェハー製造工程で実施される検査も重要な項目となっています。そんな中、既存ラインのスペース制限、目視検査での限界、データ量が多くリアルタイムで検査が難しい等の課題があります。

WHECのCISラインカメラは以下の強みを活かし、ウェハーID検査やノッチング検査、表面欠陥検査やチップ外観検査等の工程で利用可能です。

・カメラモジュール・光源・レンズの一体型なのでコンパクトで設置が簡単
・4/6/8/12インチ等ウェハーサイズに合わせて読取幅を選択可能
・マルチアングル・同軸・トンネル光源で多様かつ高度な検査に対応
・Max 2400dpi/71kHzのリアルタイム検査に対応

2. 乱反射を低減するCISラインカメラを用いた反射素材の表面検査デモ

リチウムイオン電池の金属箔、金属印刷、反射の強いウェハー表面、透明フィルム等は光の反射で欠陥の検出が難しいことがあります。WHECの同軸光源CISラインカメラシリーズは独自の光源設計により乱反射を低減しクリアな画像を取得します。さらに新技術としてカラー読取にも対応し、反射素材の色味検査も実現できます。

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3. 外部光源一体型CISラインカメラ

CISラインカメラの大きな特徴はカメラモジュール、レンズ、光源が一体となったコンパクトさですが、検査物や欠陥の種類、状態によっては外部光源を利用するとより鮮明な結果を得られる場合があります。このCISラインカメラシリーズは外部光源とCISラインカメラが一体となっており、設置が簡単です。一体となった外部光源は角度の調整が可能です。リチウムイオン電池関係、フィルムやシートなどに適しています。

4. LIS超高解像度ラインカメラ

5. 外部光源（斜光光源・集光光源）

WHECのCISラインカメラと接続するだけで使用できる外部光源は、点灯タイミングと光量の調節をCIS側でコントロールします。これにより面倒な光源とCISラインカメラの調整の手間を省略します。

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